GB/T 13452.2-2018 5.4.4\5.5.7\5.5.8 色漆和清漆 漆膜厚度的測定
發(fā)表時間:2025-08-01
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5.4.4 條款:磁性法測量磁性基體上非磁性涂層的附加要求
該條款針對使用磁性法測量磁性基體(如鋼鐵)上非磁性涂層厚度,提出了進一步規(guī)范。首先強調儀器校準的重要性,需使用具有不同厚度的標準片對磁性測厚儀進行校準,以確保測量準確性。標準片的厚度范圍應覆蓋預期測量的漆膜厚度區(qū)間,且其磁性特性和表面粗糙度應與實際測量的基體 - 涂層系統(tǒng)相似。校準過程中,嚴格按照儀器操作說明,將測頭置于標準片上,調整儀器讀數(shù)與標準片標稱厚度一致。
此外,5.4.4 條款指出測量時要注意試樣的表面狀態(tài)。基體表面應平整、清潔,無油污、灰塵、氧化皮等雜質,以免影響測量結果。對于粗糙表面,可能需要進行適當處理,但需避免損傷涂層。在測量過程中,應保持測頭與試樣表面垂直且緊密接觸,確保測量環(huán)境穩(wěn)定,避免外界磁場干擾。同時,需在試樣不同位置進行多次測量,以獲取更具代表性的漆膜厚度數(shù)據(jù)。
5.5.7 條款:渦流法測量非磁性基體上非導電涂層的測量步驟
此條款詳細闡述了利用渦流法測量非磁性基體(如鋁、銅及其合金)上非導電涂層(如油漆、塑料涂層)厚度的具體操作流程。測量前,同樣要對渦流測厚儀進行校準,使用與實際測量條件相近的標準片,確保儀器準確。校準完成后,將探頭垂直放置在待測漆膜表面,輕輕施壓,使探頭與表面充分接觸。待儀器讀數(shù)穩(wěn)定后,記錄測量值。
測量步驟強調了測量點的選擇原則。應根據(jù)試樣的形狀、大小及涂層可能的厚度分布,合理選取測量點。對于形狀規(guī)則的試樣,可采用網(wǎng)格狀或圓周分布的方式選取測量點;對于形狀不規(guī)則的試樣,需在關鍵部位、邊緣區(qū)域及預計涂層厚度變化較大的地方增加測量點。每個測量點應重復測量至少 3 次,取平均值作為該點的漆膜厚度測量結果,以減小測量誤差。
5.5.8 條款:顯微鏡法測量透明涂層的特殊要求
5.5.8 條款專門針對透明涂層(如清漆)厚度測量給出特殊要求。采用顯微鏡法時,需制備合適的試樣。通常是從涂層上切取一小片,經(jīng)過鑲嵌、研磨和拋光等處理,使涂層截面平整且清晰暴露,以便在顯微鏡下觀察。
在顯微鏡下觀察時,要選擇合適的放大倍數(shù),確保能夠清晰分辨涂層與基體的界面,以及涂層內部的結構細節(jié)。測量時,通過顯微鏡的測量裝置,準確讀取涂層在不同位置的厚度值。由于透明涂層在顯微鏡下可能存在折射等光學現(xiàn)象,會影響測量精度,因此該條款強調要進行多次測量,并考慮適當?shù)男拚椒ǎ垣@得準確的漆膜厚度數(shù)據(jù)。同時,對于不同類型的透明涂層,可能需要采用特定的染色或其他輔助手段,以提高界面的清晰度,便于準確測量。
5.4.4、5.5.7 和 5.5.8 條款分別從不同測量方法和涂層類型出發(fā),為漆膜厚度的準確測定提供了詳細、實用的操作指南,有助于確保色漆和清漆漆膜厚度測量結果的可靠性和一致性。