GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法
發表時間:2025-07-30
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GB/T 6462-2005《金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法》由中國機械工業聯合會提出,于 2005 年 6 月 23 日由國家質檢總局與國家標準化管理委員會聯合發布,并于同年 12 月 1 日起正式實施,該標準等同采用 ISO 1463:2003,替代了 GB/T 6462-1986 版本,在覆蓋層厚度測量領域意義重大。
該標準適用于測量金屬覆蓋層、氧化膜層以及釉瓷或玻璃搪瓷覆蓋層的局部厚度。不過,它并不適用于大件或貴重件的常規檢測,因其屬于破壞性檢測。但它能夠有效測量極小面積覆蓋層的明顯變化,比如麻點、裂紋區域等。
顯微鏡法測量覆蓋層厚度的原理簡單直觀。在待測件上選取具有代表性的試樣,通過一系列工序制作出符合要求的橫斷面。借助光學顯微鏡,在圖像放大的情況下,使用校正過的目鏡測微尺或高精度標尺(如游標卡尺等)測量覆蓋層橫斷面的寬度,此寬度即覆蓋層的厚度。由于覆蓋層厚度通常在幾微米至幾十微米,所以一般采用目鏡測微尺進行測量。隨著技術發展,數字化顯微鏡圖像檢測技術也應用到該領域,通過高分辨率 CCD 和 CMOS 攝像機將顯微鏡光學圖像轉換至計算機,再利用專用測量軟件系統進行圖像測量。
在實際測量流程中,取樣環節至關重要。對于總面積有限的若干小件,若主要表面<1cm2,需對試件整個主要表面進行測量,測量次數由雙方商定;若主要表面大于 1cm2,則在 1cm2 參比面測量,次數同樣雙方商定 。之后進行金相制樣,將試樣依次經過鑲嵌、打磨、拋光、浸蝕等步驟,制備出符合要求的橫斷面,橫斷面必須垂直于覆蓋層表面、表面平整、去除切割和制備引起的變形材質,且覆蓋層橫斷面的兩界面線清晰明晰 。在顯微鏡下測量時,沿規定的顯微鏡截面長度至少取五點,對于電鍍層,此長度宜為 5mm;對于厚度均勻的覆蓋層,長度可為 20mm(報告中應注明測量點分布的長度)。在關鍵的仲裁測量中,制備和測量都要進行兩次。該方法的測量不確定度需保證在 1 微米或真實厚度的 10% 中較大的一個值內能達到 0.8 微米的絕對不確定度,當厚度大于 25 微米時,不確定度為 5% 或更小;在條件良好的情況下,能得到 0.4 微米的不確定度。
該方法具有直觀、重現性好的突出特點,測量范圍廣泛,不受覆蓋層厚度大小限制,從幾微米到幾百微米均可精確測量,適用面也較廣,可測量多種電鍍層、氧化膜以及釉瓷和玻璃搪瓷的厚度。但該方法具有破壞性,經測量的產品會報廢,且測量水平與實驗者個人技術關聯較大。因此,該方法常用于仲裁,或檢測精度要求較高的產品以及校驗其它測厚方法 。